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傳導抗擾度背景噪聲測量的必要性與方法
日期：2024-07-03 14:12
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摘要：1 前言
為了確保測試結果的準確性、可重復性，部分電磁兼容試驗項目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復性的改善帶來(lái)較大的益處。
常見(jiàn)的測試環(huán)境有開(kāi)闊場(chǎng)、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗場(chǎng)地。每種環(huán)境場(chǎng)地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據試驗項目的特性及測試要求，選擇適當的環(huán)境場(chǎng)地進(jìn)行試驗。
傳導抗擾度測試，目前業(yè)內有兩種試驗場(chǎng)地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗呢?
2 標準法...
1 前言
為了確保測試結果的準確性、可重復性，部分電磁兼容試驗項目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復性的改善帶來(lái)較大的益處。
常見(jiàn)的測試環(huán)境有開(kāi)闊場(chǎng)、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗場(chǎng)地。每種環(huán)境場(chǎng)地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據試驗項目的特性及測試要求，選擇適當的環(huán)境場(chǎng)地進(jìn)行試驗。
傳導抗擾度測試，目前業(yè)內有兩種試驗場(chǎng)地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗呢?
2 標準法規對傳導抗擾度測試環(huán)境條件有要求嗎
我們來(lái)看看標準法規，對傳導抗擾度測試環(huán)境條件的相關(guān)描述：
基礎標準GB17626.6-2017( IEC 61000-4-6：2013)對電磁環(huán)境要求描述如下：
從以上標準法規中可以看出，標準法規對傳導抗擾度的測試環(huán)境沒(méi)有強制要求，但實(shí)際電磁環(huán)境不能影響測試。所以當我們沒(méi)有在屏蔽室進(jìn)行傳導抗擾度試驗時(shí)，須考慮場(chǎng)地電磁環(huán)境對傳導抗擾度測試的影響。
3 如何對傳導抗擾度測試環(huán)境進(jìn)行確認
當在非屏蔽室內進(jìn)行傳導抗擾度測試時(shí)，實(shí)際測試的電磁環(huán)境可能比較復雜，部分頻段/頻點(diǎn)噪聲可能達到或超過(guò)試驗等級，進(jìn)而影響試驗結果判定。
傳導抗擾度電磁環(huán)境背景噪聲的測量布置示意圖如下：耦合網(wǎng)絡(luò )CDN和信號發(fā)生器按照實(shí)際測試進(jìn)行布置/擺放，耦合網(wǎng)絡(luò )EUT端口連接至接收機的輸入端，信號源無(wú)輸出，接收機在0.15MHz-80MHz/230MHz頻段測量環(huán)境/系統的電磁噪聲。
頻段范圍內環(huán)境噪聲須低于level 1的水平(120dBuv)。
傳導抗擾度環(huán)境噪聲測量布置示意圖
按照上述布置后，測量的結果如下，可以看出電磁環(huán)境給測試系統帶來(lái)了一定的電磁噪聲：
實(shí)測系統/環(huán)境噪聲
斷開(kāi)接收機與耦合網(wǎng)絡(luò )的鏈接，測量的數據如下：
接收機未與耦合網(wǎng)絡(luò )鏈接時(shí)測量數據
4 結語(yǔ)
綜 上，當傳導抗擾度試驗未在屏蔽室進(jìn)行時(shí)，依據CNAS-CL16:2013需要提供環(huán)境(背景)測試報告。根據以上測量數據，非屏蔽試驗場(chǎng)地外界電磁環(huán)境會(huì )影響傳導抗擾度系統背景噪聲，復雜電磁環(huán)境甚至會(huì )影響試驗結果判定。
因此，傳導抗擾度試驗建議在屏蔽室進(jìn)行，非屏蔽室試驗場(chǎng)地，須進(jìn)行場(chǎng)地電磁環(huán)境(背景噪聲)確認。
為了確保測試結果的準確性、可重復性，部分電磁兼容試驗項目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復性的改善帶來(lái)較大的益處。
常見(jiàn)的測試環(huán)境有開(kāi)闊場(chǎng)、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗場(chǎng)地。每種環(huán)境場(chǎng)地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據試驗項目的特性及測試要求，選擇適當的環(huán)境場(chǎng)地進(jìn)行試驗。
傳導抗擾度測試，目前業(yè)內有兩種試驗場(chǎng)地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗呢?
2 標準法規對傳導抗擾度測試環(huán)境條件有要求嗎
我們來(lái)看看標準法規，對傳導抗擾度測試環(huán)境條件的相關(guān)描述：
基礎標準GB17626.6-2017( IEC 61000-4-6：2013)對電磁環(huán)境要求描述如下：
GB/T 6113.204-2008(CISPR 16-2-4 2003)對抗擾度試驗環(huán)境要求如下：
CNAS認可文件CNAS-CL16:2013對傳導抗擾度測試電磁環(huán)境要求描述如下：
從以上標準法規中可以看出，標準法規對傳導抗擾度的測試環(huán)境沒(méi)有強制要求，但實(shí)際電磁環(huán)境不能影響測試。所以當我們沒(méi)有在屏蔽室進(jìn)行傳導抗擾度試驗時(shí)，須考慮場(chǎng)地電磁環(huán)境對傳導抗擾度測試的影響。
3 如何對傳導抗擾度測試環(huán)境進(jìn)行確認
當在非屏蔽室內進(jìn)行傳導抗擾度測試時(shí)，實(shí)際測試的電磁環(huán)境可能比較復雜，部分頻段/頻點(diǎn)噪聲可能達到或超過(guò)試驗等級，進(jìn)而影響試驗結果判定。
傳導抗擾度電磁環(huán)境背景噪聲的測量布置示意圖如下：耦合網(wǎng)絡(luò )CDN和信號發(fā)生器按照實(shí)際測試進(jìn)行布置/擺放，耦合網(wǎng)絡(luò )EUT端口連接至接收機的輸入端，信號源無(wú)輸出，接收機在0.15MHz-80MHz/230MHz頻段測量環(huán)境/系統的電磁噪聲。
頻段范圍內環(huán)境噪聲須低于level 1的水平(120dBuv)。
傳導抗擾度環(huán)境噪聲測量布置示意圖
按照上述布置后，測量的結果如下，可以看出電磁環(huán)境給測試系統帶來(lái)了一定的電磁噪聲：
實(shí)測系統/環(huán)境噪聲
斷開(kāi)接收機與耦合網(wǎng)絡(luò )的鏈接，測量的數據如下：
接收機未與耦合網(wǎng)絡(luò )鏈接時(shí)測量數據
4 結語(yǔ)
綜 上，當傳導抗擾度試驗未在屏蔽室進(jìn)行時(shí)，依據CNAS-CL16:2013需要提供環(huán)境(背景)測試報告。根據以上測量數據，非屏蔽試驗場(chǎng)地外界電磁環(huán)境會(huì )影響傳導抗擾度系統背景噪聲，復雜電磁環(huán)境甚至會(huì )影響試驗結果判定。
因此，傳導抗擾度試驗建議在屏蔽室進(jìn)行，非屏蔽室試驗場(chǎng)地，須進(jìn)行場(chǎng)地電磁環(huán)境(背景噪聲)確認。
