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電磁兼容八種測試的實(shí)質(zhì)
日期:2024-06-24 14:50
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摘要:
1輻射發(fā)射測試
測試電子、電氣和機電設備及其組件的輻射發(fā)射,包括來(lái)自所有組件、電纜及連線(xiàn)上的輻射發(fā)射,用來(lái)鑒定其輻射是否符合標準的要求,一致在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設備。
2傳導騷擾測試
為了衡量設備從電源端口、信號端口向電網(wǎng)或信號網(wǎng)絡(luò )傳輸的騷擾。
3靜電放電抗擾度測試
測試單個(gè)設備或系統的抗靜電放電干擾能力,它模擬:操作人員或物體在接觸設備時(shí)的放電;人或物體對臨近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生一下后果:直接通過(guò)能量交換引起半導體器件的損壞、放電所引起的電場(chǎng)...
1輻射發(fā)射測試
測試電子、電氣和機電設備及其組件的輻射發(fā)射,包括來(lái)自所有組件、電纜及連線(xiàn)上的輻射發(fā)射,用來(lái)鑒定其輻射是否符合標準的要求,一致在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設備。
2傳導騷擾測試
為了衡量設備從電源端口、信號端口向電網(wǎng)或信號網(wǎng)絡(luò )傳輸的騷擾。
3靜電放電抗擾度測試
測試單個(gè)設備或系統的抗靜電放電干擾能力,它模擬:操作人員或物體在接觸設備時(shí)的放電;人或物體對臨近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生一下后果:直接通過(guò)能量交換引起半導體器件的損壞、放電所引起的電場(chǎng)磁場(chǎng)變化,造成設備的誤動(dòng)作。放電的噪聲電流導致器件的誤動(dòng)作。
4射頻輻射電磁場(chǎng)的抗擾度測試
對設備的干擾往往是設備操作、維修和**檢查人員在使用移動(dòng)電話(huà)時(shí)所產(chǎn)生的,無(wú)線(xiàn)電臺、電視發(fā)射臺、移動(dòng)無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源,以及電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射,都會(huì )產(chǎn)生射頻輻射干擾。測試的目的時(shí)建立一個(gè)共同的標準來(lái)評價(jià)電子設備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾能力。
5快速瞬變脈沖群的抗擾度測試
電路中機械開(kāi)關(guān)對電感性負載的切換,通常會(huì )對同一電路中的其他電氣和電子設備產(chǎn)生干擾。測試的機理是利用群脈沖產(chǎn)生的共模電流流過(guò)線(xiàn)路時(shí),對線(xiàn)路分布電容能量的積累效應,當能量積累到一定程度時(shí)就可能引起線(xiàn)路(乃至設備)工作出錯。通常測試設備一旦出錯,就會(huì )連續不斷的出錯,即使把脈沖電壓稍稍降低,出錯情況依然不斷的現象加以解釋。脈沖成群出現,脈沖重復頻率較高,波形上升時(shí)間短暫,能量較小,一般不會(huì )造成設備故障,使設備產(chǎn)生誤動(dòng)作的情況多見(jiàn)。
6浪涌抗擾度測試
雷擊主要模擬間接雷,如雷電擊中戶(hù)外線(xiàn)路,有大量電流流入戶(hù)外線(xiàn)路或接地電阻,產(chǎn)生干擾電壓。在線(xiàn)路感應的電壓和電流,雷電擊中臨近物體產(chǎn)生電磁場(chǎng),在線(xiàn)路上感應的電壓和電流,雷擊中地面,地電流通過(guò)公共接地系統時(shí)所引入的干擾。
切換瞬變:主電源系統切換時(shí)產(chǎn)生的干擾,同一電網(wǎng)大型開(kāi)關(guān)跳動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的干擾。
7射頻場(chǎng)感應的傳導抗擾度測試
通常情況下設備的引線(xiàn)的長(cháng)度可能與干擾頻率的幾個(gè)波長(cháng)相當,這些引線(xiàn)就可以通過(guò)傳導方式對設備產(chǎn)生干擾,沒(méi)有傳導電纜的設備不需要做此項測試。
在通常情況下,被 干擾設備的尺寸要比頻率較低的干擾波的波長(cháng)小的多,相形之下,設備引線(xiàn)的長(cháng)度可能達到干擾波的幾個(gè)波長(cháng),這樣,設備引線(xiàn)就變成被動(dòng)天線(xiàn),接受射頻場(chǎng)的感應,變成傳導干擾入侵設備內部,*終以射頻電壓電流形成的近場(chǎng)電磁場(chǎng)影響設備工作。
8電壓跌落、斷時(shí)中斷和電壓漸變抗擾度測試
電壓瞬間跌落、斷時(shí)中斷是由電網(wǎng)、變電設施的故障或負荷突然出現大的變化所引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)中的負荷連續變化引起的。