電磁兼容性（EMC）測試方法與整改指南

     電磁兼容性（EMC）是電子設備存在于電磁環(huán)境中而不會(huì )對該環(huán)境中的其他電子設備造成干擾或干擾的能力。

     EMC通常分為兩類(lèi)：

     1.輻射 - 電子設備發(fā)出的電磁干擾可能會(huì )對同一環(huán)境中的其他電子設備造成干擾/故障。也稱(chēng)為電磁干擾（EMI）。

     2.免 ，疫/易感性 - 免 ， 疫是指電子設備在電磁環(huán)境中正常運行而不會(huì )因其他電子設備發(fā)出的輻射而發(fā)生干擾/故障的能力，易感性基本上與免，  疫力相反，因為設備對電磁干擾的免 ， 疫力越小，它就越容易受到影響，通?？箶_度測試是不是必需的用于在澳大利亞，新西蘭，北美和加拿大銷(xiāo)售/分銷(xiāo)消費/商用型產(chǎn)品。

     電磁兼容性排放

     EMC排放進(jìn)一步細分為兩類(lèi)：

    1.輻射排放

    2.進(jìn)行排放

    電磁場(chǎng)由以下部分組成：

    1.電場(chǎng)（電場(chǎng)） - 通常以伏/米（V / M）為單位測量

    2.磁場(chǎng)（H場(chǎng)） - 通常以每米安培（A / m）為單位測量

    電磁場(chǎng)的這兩個(gè)分量本身是兩個(gè)獨立的場(chǎng)，但不是完全獨立的現象。電場(chǎng)和H場(chǎng)彼此成直角移動(dòng)。

   輻射發(fā)射（E-Field）：

   輻射發(fā)射是源自電子或電氣設備內部產(chǎn)生的頻率的電磁干擾（EMI）或干擾。輻射發(fā)射可能會(huì )帶來(lái)嚴苛的合規性問(wèn)題，對于一些一般性指導，請查看我們的文章 EMC輻射發(fā)射常見(jiàn)問(wèn)題和解決方案。輻射發(fā)射直接從設備的機箱或通過(guò)互連電纜（如信號端口，有線(xiàn)端口，如電信端口或電源導線(xiàn)）通過(guò)空氣傳播。

      一個(gè)很好的例子是HDMI端口和可以從這些電纜輻射的相關(guān)EMI，我們用它作為案例研究，文章可以在這里找到; 符合EMC輻射發(fā)射測試（EMI）。在EMC測試期間，使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線(xiàn)進(jìn)行輻射發(fā)射測量。

       EMC輻射發(fā)射測試方法

       輻射發(fā)射（H場(chǎng)）：電磁波的磁性成分使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線(xiàn)。典型的磁場(chǎng)天線(xiàn)包括環(huán)形天線(xiàn)，并且還包括根據CISPR 15的特定天線(xiàn)，例如Van Veen Loop。Van Veen環(huán)形天線(xiàn)基本上是三個(gè)環(huán)形天線(xiàn)，它們一起構成三個(gè)軸（X，Y和Z）的產(chǎn)品磁場(chǎng)發(fā)射。

       傳導發(fā)射（連續和不連續）：

       傳導發(fā)射是電磁干擾（EMI）或源自電子或電氣設備內部產(chǎn)生的頻率的干擾。然后，這些發(fā)射沿著(zhù)互連的電纜傳播，例如有線(xiàn)端口，例如電信端口或電力導線(xiàn)。這些發(fā)射可以是連續的（在給定頻率下連續發(fā)射），也可以是不連續的（非常數，偶爾發(fā)生）。

     在EMC測試期間，通過(guò)位于測試室內的ISN（阻抗穩定網(wǎng)絡(luò )）在EMI接收器上進(jìn)行傳導發(fā)射測量。

      電磁兼容性抗擾度
      EMC抗擾度測試可以被認為是連續的或瞬態(tài)的。對產(chǎn)品應用連續測試以模擬現實(shí)世界中可能發(fā)生的RF接近度。瞬態(tài)現象通常是涉及能量爆發(fā)的短事件。

      EMC抗擾度測試要求通常根據電磁干擾如何耦合到設備上而分開(kāi)：

     1.免，  疫，機箱端口

     2.免  ，疫，信號端口和電信端口

     3.抗擾度，輸入直流電源端口

     4.抗擾度，輸入交流電源端口

     測試級別，干擾信號類(lèi)型等取決于被測設備的類(lèi)型和所應用的標準。

     持續免，  疫測試

     輻射抗擾度： RF信號發(fā)生器，放大器和天線(xiàn)用于產(chǎn)生不同頻率的電磁場(chǎng)。被測設備（EUT）的外殼端口和相關(guān)電纜通過(guò)輻射天線(xiàn)暴露在電磁場(chǎng)中。輻射測試信號處于特定幅度并且調制應用特定時(shí)間段。大多數需要抗擾度測試的標準都要求進(jìn)行此測試。

     傳導抗擾度：

      在傳導抗擾度測試期間，RF信號發(fā)生器和放大器產(chǎn)生電磁場(chǎng)。該電磁場(chǎng)通過(guò)注入裝置（通常是CDN，或“耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )”用作注入裝置）耦合到產(chǎn)品信號，數據或電源端口。這種傳導抗擾度測試本質(zhì)上是連續的，在許多標準中稱(chēng)為“射頻連續傳導”。通常，傳導抗擾度測試適用于長(cháng)度超過(guò)3米的交流和直流端口和信號電纜

      工頻磁場(chǎng)抗擾度：

      由電磁線(xiàn)圈產(chǎn)生的波動(dòng)磁場(chǎng)在主電源頻率（50 / 60Hz）下振蕩。EUT放置在這個(gè)波動(dòng)的磁場(chǎng)內并暴露足夠的時(shí)間以評估產(chǎn)品的性能。磁場(chǎng)抗擾度測試通常僅適用于磁敏感設備。

      瞬態(tài)免   疫測試：

      瞬態(tài)現象是短暫的能量爆發(fā)，被測產(chǎn)品將在很短的時(shí)間內暴露出來(lái)。與連續抗擾性一樣，瞬態(tài)抗擾度適用于產(chǎn)品機箱端口，信號/數據端口和電源端口（如果適用）。

       靜電放電（ESD）：

       ESD脈沖直接施加到器件的外殼上，間接施加到垂直/水平耦合平面，靠近被測產(chǎn)品，測試水平與所應用的標準相關(guān)。有關(guān)靜電放電效果和可能的ESD兼容性解決方案的更多信息，請查看文章：靜電放電常見(jiàn)EMC解決方案。

       電快速瞬變（EFT）/突發(fā)：

       快速瞬變是一系列短脈沖，其幅度和重復頻率都很高，上升時(shí)間很短。快速瞬態(tài)現象通常由高速開(kāi)關(guān)事件引起，例如感應負載中斷和繼電器觸點(diǎn)反彈等。通常，快速瞬態(tài)測試適用于長(cháng)度超過(guò)3米的交流和直流端口和信號電纜。

        浪涌：

        浪涌是由高功率開(kāi)關(guān)事件，磁/電感耦合甚至閃電產(chǎn)生的一種瞬態(tài)現象。在主電源的幾個(gè)相角處應用EUT的電源端口上的浪涌測試。通常，浪涌測試適用于交流端口，有時(shí)也適用于直流端口，某些EMC產(chǎn)品標準中的信號電纜長(cháng)度超過(guò)30米，或者電纜可能在建筑物外部運行。有關(guān)浪涌的更多信息，請參閱我們的文章 Surges EMC測試典型問(wèn)題和解決方案。

         電壓驟降，短暫中斷（VDI）和電壓變化：

         電壓驟降和短暫中斷測試的目的是模擬電力網(wǎng)絡(luò )中的故障。這些故障可能是由斷電（停電/掉電事件）或負載突然大的變化引起的。電壓變化通常由連接到電力網(wǎng)絡(luò )的連續變化的負載引起。電壓驟降或中斷是二維現象，其特征在于殘余電壓（指定下降之后的電源電壓）和持續時(shí)間（標稱(chēng)電壓下降到產(chǎn)品的下降多長(cháng)時(shí)間）。該測試僅適用于產(chǎn)品的AC輸入端口。

        脈沖磁場(chǎng)：

       與工頻磁場(chǎng)抗擾度測試一樣，被測產(chǎn)品放置在磁環(huán)內。與工頻磁場(chǎng)測試不同，EUT不是將EUT暴露在連續波動(dòng)的磁場(chǎng)中（以50 / 60Hz振蕩），而是暴露于由瞬態(tài)發(fā)生器提供的磁場(chǎng)脈沖。磁脈沖振幅高但上升時(shí)間短，然后評估產(chǎn)品的性能以確保正常操作。